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紅外氣體分析儀介紹
日期：2025-12-25 12:22
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摘要：
紅外氣體分析儀介紹
紅外氣體分析儀，是利用紅外線進(jìn)**體分析。它基于待分析組分的濃度不同，吸收的輻射能不同，剩下的輻射能使得檢測(cè)器里的溫度升高不同，動(dòng)片薄膜兩邊所受的壓力不同，從而產(chǎn)生一個(gè)電容檢測(cè)器的電信號(hào)。這樣，紅外線氣體分析儀就可間接測(cè)量出待分析組分的濃度。
1.比爾定律
紅外線氣體分析儀是根據(jù)比爾定律制成的。假定被測(cè)氣體為一個(gè)無限薄的平面.強(qiáng)度為k的紅外線垂直穿透它，則能量衰減的量為：I=I0e-KCL(比爾定律)
式中：I--被介質(zhì)吸收的輻射強(qiáng)度;
I0--紅外線通過介質(zhì)前的輻射強(qiáng)度;
K--待分析組分對(duì)輻射波段的吸收系數(shù);
C--待分析組分的氣體濃度;
L--氣室長度(赦測(cè)氣體層的厚度)
對(duì)于一臺(tái)制造好了的紅外線氣體分析儀，其測(cè)量組分已定，即待分析組分對(duì)輻射波段的吸收系數(shù)k一定;紅外光源已定，即紅外線通過介質(zhì)前的輻射強(qiáng)度I0一定;氣室長度L一定。從比爾定律可以看出：通過測(cè)量輻射能量的衰減I，就可確定待分析組分的濃度C了。
紅外氣體分析儀，是利用紅外線進(jìn)**體分析。它基于待分析組分的濃度不同，吸收的輻射能不同，剩下的輻射能使得檢測(cè)器里的溫度升高不同，動(dòng)片薄膜兩邊所受的壓力不同，從而產(chǎn)生一個(gè)電容檢測(cè)器的電信號(hào)。這樣，紅外線氣體分析儀就可間接測(cè)量出待分析組分的濃度。
1.比爾定律
紅外線氣體分析儀是根據(jù)比爾定律制成的。假定被測(cè)氣體為一個(gè)無限薄的平面.強(qiáng)度為k的紅外線垂直穿透它，則能量衰減的量為：I=I0e-KCL(比爾定律)
式中：I--被介質(zhì)吸收的輻射強(qiáng)度;
I0--紅外線通過介質(zhì)前的輻射強(qiáng)度;
K--待分析組分對(duì)輻射波段的吸收系數(shù);
C--待分析組分的氣體濃度;
L--氣室長度(赦測(cè)氣體層的厚度)
對(duì)于一臺(tái)制造好了的紅外線氣體分析儀，其測(cè)量組分已定，即待分析組分對(duì)輻射波段的吸收系數(shù)k一定;紅外光源已定，即紅外線通過介質(zhì)前的輻射強(qiáng)度I0一定;氣室長度L一定。從比爾定律可以看出：通過測(cè)量輻射能量的衰減I，就可確定待分析組分的濃度C了。
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